
Эффект Ганна наблюдается главным образом в двухдолинных полупроводниках, 
    зона проводимости которых состоит из одной нижней долины и нескольких верхних 
    долин. Для того, чтобы при переходе электронов между долинами возникало отрицательное 
    дифференциальное сопротивление, должны выполняться следующие требования: 
 
   
    · средняя тепловая энергия электронов должна быть значительно меньше энергетического 
    зазора между побочной и нижней долинами зоны проводимости, чтобы при отсутствии 
    приложенного внешнего электрического поля большая часть электронов находилась 
    в нижней долине зоны проводимости; 
 
   
    · эффективные массы и подвижности электронов 
    в нижней и верхних долинах должны быть различны. Электроны нижней долины должны 
    иметь высокую подвижность μ1, малую эффективную массу m1* и низкую плотность 
    состояний. В верхних побочных долинах электроны должны иметь низкую подвижность 
    μ2, большую эффективную массу m2* и высокую плотность состояний; 
    
    · энергетический 
    зазор между долинами должен быть меньше, чем ширина запрещенной зоны полупроводника, 
    чтобы лавинный пробой не наступал до перехода электронов в верхние долины. 
    Из изученных и применяемых полупроводниковых материалов перечисленным требованиям 
    наиболее соответствует арсенид галлия n-типа. Рассмотрим междолинный переход 
    электронов в арсениде галлия. Приложим к однородному образцу из арсенида 
    галлия электрическое поле. Если напряженность поля в образце мала, то все 
    электроны находятся в нижней долине зоны проводимости (в центре зоны Бриллюэна). 
    Поскольку средняя тепловая энергия электронов значительно меньше энергетического 
    зазора между дном верхней и нижней долин зоны проводимости, они не переходят 
    в верхнюю долину (рис. 8.1).
 
   Рис. 8.1. Схематическая диаграмма, показывающая энергию электрона в зависимости 
    от волнового числа в области минимумов зоны проводимости арсенида галлия n-типа 
    
    
    Электроны нижней долины имеют малую эффективную массу m1* и высокую подвижность 
    μ1. Плотность тока, протекающего через образец, определяется концентрацией 
    электронов в нижней долине n1 (n1 = n0, где n0 - равновесная концентрация 
    электронов в полупроводнике): 
    
      (8.1) 
    Увеличим приложенное электрическое поле. 
    С ростом поля возрастает скорость дрейфа электронов. На длине свободного пробега 
    l электроны приобретают энергию eEl, отдавая при столкновениях с фононами 
    кристаллической решетки меньшую энергию. Когда напряженность поля достигает 
    порогового значения Eп, появляются электроны, способные переходить в верхнюю 
    долину зоны проводимости. Дальнейшее увеличение поля приводит к росту концентрации 
    электронов в верхней долине. Переход из нижней долины в верхнюю сопровождается 
    значительным ростом эффективной массы и уменьшением подвижности, что ведет 
    к уменьшению скорости дрейфа. При этом на вольт-амперной характеристике образца 
    появляется участок с отрицательным дифференциальным сопротивлением (ОДС) (рис. 
    8.2)
	
    Рис. 8.2. N-образная вольт-амперная характеристика: E - электрическое 
    поле, создаваемое приложенной разностью потенциалов; J - плотность тока
    Для 
    возникновения отрицательного дифференциального сопротивления необходим одновременный 
    переход большинства электронов из центральной долины в боковую при пороговой 
    напряженности электрического поля (см анимацию). Но получить статическую ВАХ, 
    соответствующую сплошной кривой, не удается, так как в кристалле или около 
    невыпрямляющих контактов всегда есть неоднородности, в результате чего возникают 
    локальные напряженности электрического поля, превышающие среднюю напряженность. 
    Превращение в этих местах "легких" электронов в "тяжелые" еще больше увеличивает 
    неоднородность электрического поля. Поэтому практически не получается одновременного 
    перехода большинства электронов в кристалле из центральной долины в боковую 
    и статическая ВАХ остается без участка с ОДС.