Лабораторная работа N 16.

Определение основных характеристик фотодиода.

1. Виды фотоприёмников на основе диодов.

Оптоэлектронные  приборы – это устройства, преобразующие оптическое излучение в электрический сигнал и наоборот, электрический сигнал в оптическое излучение. К первому виду оптоэлектронных приборов относятся фотоприёмники и солнечные батареи, ко второму виду- светодиоды и полупроводниковые лазеры.

Для преобразования оптического излучения в электрический сигнал используется межзонное поглощение квантов света в полупроводниках, как наиболее эффективный канал преобразования энергии. При поглощении света генерируется неравновесные – основные и неосновные носители. В фотоприемных устройствах как правило используется принцип регистрации неосновных носителей заряда. Наиболее распространённые фотоприёмники реализуются на основе диодных структур. Среди них фотодиоды на  основе p-n – переходов, барьеров Шоттки и гетеропереходов. Ниже, на рис.1 приведена конструкция наиболее распространённых фотодиодов.

д

В фотодиодах на основе p-n – переходов используется эффект разделения на границе электронно-дырочного перехода созданных оптическим излучением неосновных неравновесных носителей. Схематически фотодиод изображен на рис.2.

Рис.2. Схематическое изображение фотодиода  и схема его включения.  n -  эмиттер, p – база фотодиода.

2. Физические основы работы фотодиода.

2.1. ВАХ p-n-перехода в темноте.

При контакте двух полупроводников с разными типами проводимости вследствие разности термодинамических работ выхода Фn-типp-тип  произойдет перераспределение свободных зарядов и возникнет область пространственного  заряда Q1 и Q2. При этом положительный заряд Q1 образован нескомпенсированными донорами, а  отрицательный заряд Q2 образован нескомпенсированными акцепторами. Объемный заряд создает электрическое поле , максимальный на границе Еmax  и линейно спадающее вглубь области пространственного зарядаак видно из уравнения (1)

(1)

 
;                         ;

Emax                      

 

Рис. 3. Область пространственного заряда в p-n – переходе.

Наличие электрического поля Е приведет к тому, что ход потенциального потенциала будет иметь нелинейный  вид. Наклон графика jк равен напряженности поля Е(x). Дно зоны проводимости Еc(х) и потолок валентной зоны Еv(х) будут повторять ход потенциала j(х) (рис.4). В состоянии равновесия уровень Ферми F должен быть один и тот же во всей системе Высота потенциального барьера, образованного на границе двух полупроводников будет равна разности термодинамических работ выхода:

                                                         jк = Фn-тип  - Фp-тип=

Рис.4. Зонная диаграмма контакта полупроводников p- и n- типов в равновесии.

  В условиях термодинамического равновесия в p-n-переходе существуют четыре компоненты тока. Две из них дрейфовые, две – диффузионные, каждый из которых образована неосновными и основными носителями заряда.

Рис. 5. токи в p-n – переходе. Стрелки указывают движение заряженных частиц.

Таким образом, в состоянии равновесия суммарный ток, обусловленный диффузионными jpD, jnD  и дрейфовыми jnE, jpE  токами электронов и дырок, должен быть равен нулю.

                                 ;           Jдиффуз. = Jдрейф.                (2)

При приложении напряжения VG равновесие нарушается   и  ВАХ диода будет иметь вид:

                                                                                         (3)

Плотность тока насыщения  равна сумме дрейфовых электронной jnE и дырочной jpE компонент тока

                        .     (4)

Обратный (при VG < 0)  ток в p-n – переходе дрейфовый . Физический смысл прост – в токе участвуют все носители, которые генерируются в цилиндре объёмом (S=1 и длиной ) и вытекающие из этого цилиндра со скоростью, равной скорости диффузии  .

Таким образом из (3)  ВАХ диода на основе p-n – перехода имеет следующий вид:

Рис. 6.   ВАХ диода на основе p-n – перехода.

 В несимметричных  p+-n – переходах течёт только один дырочный (диффузионный и дрейфовый) ток, а в n+-p – переходах -  только электронный ток.

 

2.2. Фотодиод при освещении.

При попадании кванта света, с энергией h в полосе собственного поглощения в полупроводнике возникает пара неравновесных носителей – электрон и дырка. При регистрации электрического сигнала необходимо зарегистрировать изменение концентрацией носителей. Очевидно, что при прочих равных условиях зарегистрировать изменение концентрации неосновных носителей проще.

Так, например, в nGaAs с легирующей концентрацией 1014см-3, концентрация основных носителей электронов составляет 1014см-3, а концентрация неосновных носителей – дырок – 1см-3. Поэтому, если при оптическом поглощении в фотоприемнике на основе GaAs возникает 1010см-3 неравновесных носителей, то проще  зарегистрировать изменение концентрации неосновных носителей.

В фотодиодах на основе p-n переходов как раз и реализован принцип регистрации изменения концентрации неосновных носителей под влиянием внешнего излучения. Обратный ток p-n перехода обусловлен дрейфовыми компонентами тока и выражается

                                                   

где  и - концентрация неосновных носителей.

Изменение концентрации неосновных носителей вызывает изменение фототока. Величина фототока выражается соотношением:

                                                               (5)

*и - неравновесная концентрация фотогенерированных неосновных носителей на расстояние Ln, Lp от области пространственного заряда в квазинейтральном объёме эмиттера и базы диода.

Обычно эмиттер фотодиода  p+-n делают тонким l<< Lp,Ln, так, чтобы поглощение света происходило  в n базе фотодиода, тогда

                                                                                                      (6)

Поскольку в стационарных условиях G = R = , то

величина фототока  JФ  будет

где G - темп генерации неравновесных носителей. В случае слабого поглощения  число  поглощённых фотонов в единичном объёме будет равно . Тогда темп генерации выразится в виде

G =

Здесь h–квантовый выход, a – коэффициент поглощения и Ф – падающий световой поток (число квантов в ед. времени на ед. площади) .

 

Величина фототока  JФ здесь имеет величину

                                                                                                                                        (7)

Фототок  JФ постоянен,  не зависит от полярности и величины приложенного напряжения VG,  и направлен от n – области  к   p – области  полупроводника.

Неосновные носители, возникающие под действием светового потока, должны формироваться на расстоянии порядка диффузионной длины от обедненной области p-n перехода для того, чтобы принять участие в обратном токе диода. Характерные параметры диффузионная длина Lp порядка 100мкн, а ширина обедненной области p-n перехода 1мкн. Поэтому, основной фототок в фотодиоде обусловлен поглощением в квазинейтральном объеме базы фотодиода  и время отклика фотодиода будет определяться временем жизни неосновных носителей.

Две характеристики p-n-фотодиодов ограничивают их применение в большинстве волоконно-оптических приложений. Во-первых, обедненная зона составляет достаточно малую часть всего объема диода, и большая часть поглощенных фотонов не приводит к генерации тока во внешнем контуре. Возникающие при этом электроны и дырки рекомбинируют на пути к области сильного поля. Для генерации тока достаточной силы требуется мощный световой источник. Во-вторых, наличие медленного отклика, обусловленного медленной диффузией, замедляет работу диода, делая его непригодным для средне- и высокоскоростных применений. Это позволяет использовать фотодиод на основе p-n – перехода только в килогерцовом диапазоне.

2.3. p-i-n  фотодиод.

Указанные недостатки фотодиода на основе p-n – перехода  устраняются в фотодиодах, где между p и n областями расположен i слой  с собственной проводимостью. Толщина этого слоя выбирается достаточно большой W>>Lp с тем чтобы поглощение света происходило в этой области. Поскольку в i- слое свободные носители отсутствуют, при обратном смещении p-n – перехода всё приложенное напряжение  будет падать на  i- слое. Фотогенерированные носители в i- слое будут разделяться  в сильном электрическом поле и фотоотклик  таких диодов будет быстрым. На рисунке 8 приведена конструкция и энергетическая диаграмма, иллюстрирующая принцип работы p-i-n  - фотодиодов.

Рис.8. Принцип работы р - i n фотодиода . а — поперечный разрез диода; б — зонная диаграмма в условиях обратного смещения; в — распределение ин­тенсивности излучения.

 

2.3. ВАХ фотодиода на основе p-n – переходов при освещении с внешним напряжением.

Уравнение  для активного  режима работы фотодиода при наличии VG, R принимает вид

                                                         .                   (8)

В отсутствии внешнего источника VG, это напряжение на нагрузочном сопротивлении R включено на выход фотодиода и обусловлено фототоком при освещении фотодиода. Рассмотрим два частных случая уравнения (8).

Разомкнутая цепь. При разомкнутой внешней цепи (R=¥),для случая , когда внешнее напряжение отсутствует, ток через внешнюю цепь не протекает. В этом случае напряжение на выводах фотодиода будет максимальным. Эту величину VG называют напряжением холостого хода VXX. Из уравнения (8), при условии J=0, получаем уравнение, позволяющее по известным значениям фототока Jф и тока нагрузки Js рассчитать напряжение холостого хода VXX

                                                                                                              (9)

Напряжение VXX (фотоЭДС) можно также определить непосредственно, подключая к выводам фотодиода вольтметр, но внутреннее сопротивление вольтметра должно быть много больше сопротивления p-n-перехода.

Режим короткого замыкания. В режиме короткого замыкания, напряжение на выводах фотодиода VG = 0. Тогда из уравнения (8) следует, что ток короткого замыкания JКЗ во внешней цепи равен фототоку Jф,

                                                 JКЗ= Jф                                            (10)

Итак, в режиме короткого замыкания определяется величина фототока JФ.

На рис.9 показано семейство ВАХ фотодиода, как при отрицательной так и при положительной поляризации фотодиода, рассчитанные по уравнению (8). При положительных напряжениях VG ток фотодиода быстро возрастает (пропускное направление) с увеличением нап­ряжения. При освещении же общий прямой ток через диод уменьшается, так как фототок направлен противоположно току от внешнего источника.

 

ВАХ p-n – перехода, располагаясь во II квадранте, показывает, что фотодиод можно использовать как источник тока. На этом основан принцип работы солнечных батарей на основе p-n - переходов.

 

Световая зависимость

Световая характеристика представляет собой характеристика величины  фототока JФ от светового потока Ф,  падающего на фотодиод. Сюда же относится и зависимость VXX от величины светового потока. Количество электронно-дырочных пар, образующихся в фотодиоде при освещении, пропорционально количеству фотонов, падающих на фотодиод. Поэтому фототок будет пропорционален величине светового потока

                                                                  Jф = К*Ф                                                        (11)

где К - коэффициент пропорциональности, зависящий от параметров фотодиода

В фотодиодном режиме, как следует из уравнение (7), ток во внешней цепи пропорционален световому потоку и не зависит от напряжения VG.

Рис.10.  Световая характеристика фотодиода

Коэффициент пропорциональности К в уравнение (11) получил название интегральной чувствительности фотодиода.

Спектральная чувствительность

Будем теперь освещать фотодиод монохроматическим светом с некоторой длиной волны l. Величину светового потока Ф будем поддерживать постоянной при любой длине волны света. Зависимость  фототока  JФ() будет определяться зависимостью квантового выхода  и коэффициента поглощения  от длины волны

JФ() ~

Зависимость спектральной чувствительности от длины волны является сложной. Эта зависимость имеет максимум при некоторой длине волны, причём спад в области длинных волн связан с зависимостью квантового выхода от длины волны, а в области коротких длин волн - с зависимостью коэффициента межзонного поглощения   от длины волны. Обе зависимости имеет красную границу, поскольку при энергии квантов  меньше ширины запрещённой зоны Еg  межзонное поглощение света не происходит.

 

Рис.11. Кривые спектральной чувствительности: 1) германиевого, 2) кремниевого фотодиодов.

 

 


Влияние неоднородного  поглощение по глубине фотодиода на спектральную чувствительность показано на рисунке ниже. Коротковолновое излучение имеет высокое значение коэффициента поглощения , поэтому поглощается в основном в приповерхностной области эмиттера фотодиода. Очевидно, что в этом случае фототок будет мал, поскольку область поглощения света удалена от p-n – перехода. В случае длинных волн поглощение происходит по всей глубине фотодиода на расстояниях равных или больших диффузионной длины. В этом случае эффективность преобразования будет максимальной. Наконец, при очень больших значениях  фототок уменьшается из-за приближения к красной границе фотоэффекта.

Рис. 12. Зависимость скорости генерации электронно-дырочных пар от рассто­яния от поверхности для длинноволнового и коротковолнового света (а), раз­меры фотодиода и характерные длины диффузии неосновных носи­телей (б).

 

 

3. Описание экспериментальной установки.

Для исследования характеристик фотодиода используется экспериментальная установка, блок схема которой приведена на рис.12. Свет от источника "Л"(лампа накаливания) фокусируется с помощью линзы "L" на входную щель "S" монохроматора "М". В монохроматоре стоит призма "П", которая разлагает падающий на нее пучок белого света в спектр. Вращая барабан "Б", на выходную щель монохроматора "S" можно подавать свет с той или иной длиной волны l. Для определения длины волны на барабан нанесены деления, которые определяют угол поворота барабана в градусах.

Свет, выходящий из выходной щели монохроматора, падает на фотодиод. В результате в цепи фотодиода протекает фототок.

 

 

 

Рис.12. Блок-схема для измерения характеристик фотодиода:

"Л" - лампа накаливания, "L" - фокусирующая линза, "М" - монохроматор, "П" - призма, "Б" - барабан, "S1" и "S2" - входная и выходная щели монохроматора, ФД - фотодиод, "В" - выключатель, "А"-микроамперметр, "V" - вольтметр, "И" - источник напряжения, 1 и 2- клеммы для подключения микроамперметра, 3 и 4 - клеммы для подключения внешнего источника напряжения.

Для исследования фотодиода в режиме короткого замыкания выключатель "В" переводят в верхнее положение, тогда фотодиод замыкается через микроамперметр "А". Для исследования фотодиода в фотодиодном режиме выключатель "В" переводят в нижнее положение,  тогда на фотодиод будет  подаваться напряжение U, контролируемое вольтметром "V". Микроамперметр по-прежнему включен в цепь фотодиода.

 

4. Порядок выполнения работы.

 

1) Произвести измерения темновой вольт амперной характеристики в обратном и прямом направлении.

 Перевести переключатель панели в положение "обратное". На источнике Б5-45 последовательно выставлять напряжения Uобр =( 0.1-8) В через 1В

Напряжение на диоде фиксируется по вольтметру V2/

Ток диода определяется по формуле Iобр=V1/104, где V1 показания вольтметра V1.

Перевести тумблер в положение "прямое". На источнике Б5-45 последовательно выставлять напряжения

 Uпр= (0.02- 0.08) В через  0.02В;

В том же порядке зафиксировать значения напряжения и тока.

2) Определить спектральную характеристику фотодиода.

Переключить тумблер в положение "обратное", на источнике выставить напряжение 5В. Установить ширину входной щели монохроматора 4мм. Включить лампу освещения. Ручкой на лицевой панели монохроматора выставить необходимую длину волны с шагом 50 нм. Измерение фототока диода производится по вольтметру V1 (Iф =V1/).                Снять спектральную зависимость Iф =I(l) в интервале длин волн (900 – 500) нм .

 

3) Произвести измерения вольт амперной характеристики при освещении в обратном и прямом направлении.

При длине волны  , соответствующей максимуму фототока Iф снять фото ВАХ в прямом и обратном направлении (ширина щели d=4мм).

Построить ВАХ (темновую и при освещении на одном графике).

 

4) Исследовать работу диода в режиме ЭДС.

Переключить тумблер в положение ЭДС, измерить зависимость сигнала ЭДС напряжение холостого хода VXX по вольтметру V2 от величины светового потока, который изменяется шириной входной щели от 4 до 0 (мм) с шагом 1мм. Длина волны соответствует максимуму фототока Iф.

 

 

4.2. Контрольные вопросы.

1. Что такое фотодиод?

2.Как образуется потенциальный барьер p-n-перехода?

3.Нарисуйте зонные диаграммы, поясняющие работу фотодиода при освещении.

4.Нарисуйте ВАХ фотодиода. Почему при освещении обратный ток фотодиода увеличивается а прямой ток уменьшается?

5.Что такое световая характеристика фотодиода?

6.Как зависит фототок от длины волны света?

7.Почему в области больших длин волн или малых энергий фотона

  фототок резко спадает?

5. Литература

 

1.      Зи С. Физика полупроводниковых приборов. // М.: Мир. 1984, Т. 1 455 с. Т.2  455 с.

2.      Маллер Р.А, Кейминс Т. Элементы интегральных схем. // М.: Мир, 1986, 630 с.

3.      Ефимов И.Е., Козырь И.Я., Горбунов Ю.И. Микроэлектронника. (Физические и технологические основы, надежность). // М.: Высшая школа. 1995, 464 с.

4.      Справочник. Полупроводниковые приборы. Нефедов А.В., Гордеева В.И. Диоды. Оптоэлектронные приборы.// М.: КУбК-а. 1998, 401 с.

 

 

6.ТЕХНИКА БЕЗОПАСНОСТИ.

 

1. Не включать приборы в сеть, не ознакомившись с работой и не получив

допуск к работе у преподавателя или инженера .

2. Не подавать на фотодиод прямое напряжение больше 1 В!

3. Руководствоваться следующими основными параметрами фотодиодов:

 

Параметры

ФД 1

ФД 2

ФД 3

ФД 4

Рабочее напряжение, В.

15

30

10

20

Макс. Обратное напряжение

20

50

15

25

Темновой ток насыщ.(мкА),меньше

30

25

15

3

Площадь фоточувств.поверх.(мм2)

5

1

2

2

Максимальное прямое напряж.

1

1

1

1

Интегральная чувствит.А/лм.

5

1

2

2