ВОПРОСЫ К ЗАЧЕТУ
  1. Конденсированое состояние вещества. Классификация твердых тел по характеру расположения атомов. Необходимость получения и систематизации информации о характеристиках структурного состояния твердых тел.
  2. Реальная структура материалов. Дефекты структуры и их классификация.
  3. Основы методов оптической микроскопии.
  4. Механизм рассеяния электромагноитного излучения рентгеновского диапазонавеществом. Функция атомного рассеяния.
  5. Рассмотрение процесса рассеяния излучений (рентгеновского, электронного и нейтронного) как отражения от плоских атомных сеток. Расчет межплоскостных расстояний.
  6. Качественный фазовый анализ - идентификация вещества по даным о межплоскостных расстояниях.
  7. Физические основы получения дифракционной картины от кристаллов методом Лауэ. Получаемая информация о структурном состоянии.
  8. Физические основы получения дифракционной картины от кристаллов методом Дебая. Получаемая информация о структурном состоянии.
  9. Физические основы получения дифракционной картины от кристаллов методом вращения монокристалла. Получаемая информация о структуре.
  10. Структурная амплитуда. Анализ дифракционных картин на основе расчета структурной амплитуды.
  11. Индицирование дифракционных картин для кубических кристаллов.
  12. Основы метода получения информации о форме размерах элементарной ячейки
  13. Какую информацию о свойствах вещества можно получить из анализа периодов элементарной ячейки.
  14. Физические основы процесса фотоэлектрического поглощения рентгеновского излучения веществом. Закон ослабления интенсивности.
  15. Природа эффекта флуоресценции. Флуоресценция как основа метода анализа химического вещества.
  16. Методы рентгеноспектрального анализа. физические основы, достоинства и недостатки эмиссионных методов.
  17. Методы рентгеноспектрального анализа. Физические основы, достоинства и недостатки рентгенофлуоресцентных методов.
  18. Физические основы метода анализа протяженной тонкой структуры рентгеновских спектров поглощения EXAFS (Extended X-ray Absorption Fine Structure).
  19. Получение и обработка EXAFS (Extended X-ray Absorption Fine Structure) спектров.
  20. Информация о структурных характеристиках, получаемая из анализа EXAFS (Extended X-ray Absorption Fine Structure) спектров.
  21. Физические основы метода анализа тонкой структуры рентгеновскох спектров поглощения вблизи края поглощения XANES (X-ray Absorption Near Edge Structure).
  22. Возможности метода XANES (X-ray Absorption Near Edge Structure).