Рентгеноструктурный анализ аморфных материалов
4.6. Систематические ошибки эксперимента
Систематическая ошибка вида Δ Ic = const. В измеренных в эксперименте интенсивностях рассеяния I изм (K) может возникнуть в результате неточной установки образца по центру гониометра и в случае неполного исключения флуоресцентного излучения. В первом случае регистрируемое рассеяние меньше истинного, во-втором - величина I изм (K) завышена. При расчете Δ Н( K) /Н( K) суммируются две ошибки, частично компенсирующие друг друга.
(4.11)
На рис.30а приведена кривая Δ Н( k ), рассчитанная для Та 2O5 в предположении, что Δ Ic/I(K) составляет 20% от значений интенсивности в области минимального рассеянии. Кривую можно рассматривать как синусоиду с затухающей амплитудой, первый полупериод которой модулирован второй синусоидой с малой амплитудой и периодом. Вторая синусоида обусловлена влиянием ошибки в коэффициенте нормировки.
Соответствующая кривая Δ D(r ), рассчитанная по формуле (4.10), приведена на рис.30б.
Для отрицательных значений Δ I обе кривые меняют знак на противоположный. Вновь максимальную амплитуду осцилляции в D(r) имеют при малых значениях r.
Рис. 30. Ошибка в H(k ) (а) и в D(r ) (б), возникающая в результате систематического завышения интенсивности регистрируемой в эксперименте. (Отделенные пленки Та 2 О 5).